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為精準而設計 “高速三維數字光柵控制器”憑借PDG自動光柵控制技術、PMP輪廓測試技術為錫膏印刷、微電子元器件提供高精度的三維和二維測量。內部結構模塊化設計,實現了高集成,簡單化,有利于各種應用及設備維護。 |
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功能特點 |
PDG可編程全光譜結構光柵 |
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PMP調制輪廓測量技術 |
3維及2維測量 |
克服反射率的差異 |
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超強的穩定性 |
應用于SPI焊膏檢測 SPI 解決焊膏缺陷,包括體積、面積、高度、XY偏移、形狀,漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良。 |
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應用于焊膏印刷 印刷機與SGO-500三維數字光柵控制器(PDG)組合,快速提升3大優勢: 降低成本 提高產品檢測自控能力 自行組合,誤判、識別錯誤 |
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應用于AOI自動光學檢測 3D AOI 創新技術解決了現有 2D AOI 無法解決的瓶頸。 利用3維測量核心技術,不受密腳距、透明度、顏色、陰影等周圍環境及元器件特性的影響,在原有的2D-AOI基礎上快速提升檢測能力。
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